Магнитооптический Керр магнитометр
Описание установки
Керровский магнитометр Evico предназначен для исследования магнитных свойств материалов магнитооптическим методом на основе эффекта Керра. Установка позволяет регистрировать процессы перемагничивания, локальные особенности магнитного отклика и динамику магнитооптических сигналов с высоким пространственным и амплитудным разрешением. Благодаря сочетанию микроскопической оптики, чувствительной регистрации отраженного света и возможности работы в переменном магнитном поле магнитометр является эффективным инструментом для изучения тонких пленок, микроструктурированных магнитных объектов и локальных областей образца.
Режимы работы и методика
Магнитооптический микромагнетометр обеспечивает регистрацию относительного изменения интенсивности отраженного от образца света на уровне 5×10⁻⁵, что позволяет уверенно фиксировать малые изменения магнитного состояния. Минимальный размер исследуемого локального участка с учетом увеличения микроскопа составляет 1 мкм², что делает установку пригодной для пространственно локализованных измерений. Максимальное перемагничивающее поле, не оказывающее влияния на оптическую систему микроскопа, достигает 500 Э, а диапазон частот измерения переменных магнитооптических сигналов составляет от 20 до 30000 Гц.
Дополнительным преимуществом установки является наличие криостата для низкотемпературных измерений, что расширяет возможности исследования температурно-зависимых магнитных процессов и позволяет изучать материалы в широком диапазоне экспериментальных условий.
Основные технические параметры:
минимально регистрируемое относительное изменение интенсивности отраженного света — 5×10⁻⁵;
минимальный размер исследуемого локального участка — 1 мкм²;
максимальное перемагничивающее поле — 500 Э;
диапазон частот измерения переменных магнитооптических сигналов — 20–30000 Гц;
дополнительная опция — криостат для низкотемпературных измерений.
Дополнительным преимуществом установки является наличие криостата для низкотемпературных измерений, что расширяет возможности исследования температурно-зависимых магнитных процессов и позволяет изучать материалы в широком диапазоне экспериментальных условий.
Основные технические параметры:
минимально регистрируемое относительное изменение интенсивности отраженного света — 5×10⁻⁵;
минимальный размер исследуемого локального участка — 1 мкм²;
максимальное перемагничивающее поле — 500 Э;
диапазон частот измерения переменных магнитооптических сигналов — 20–30000 Гц;
дополнительная опция — криостат для низкотемпературных измерений.